Optical detector and test system for metrological use - has structured plane light source, diffused light source and a matrix camera in same enclosure

The test system has a housing in which is contained a structured plane light source (1), a diffused light(9) source and a matrix camera(15). The camera(15) is fitted with a lens(16) arranged in the housing so as to receive the retro-diffused light from an illuminated object. The signals output from...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: ROUAUD CHARLES, CLAIR, FRANCOIS, DEMANY DIDIER, SERGE, JEAN
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:The test system has a housing in which is contained a structured plane light source (1), a diffused light(9) source and a matrix camera(15). The camera(15) is fitted with a lens(16) arranged in the housing so as to receive the retro-diffused light from an illuminated object. The signals output from the matrix camera(16) are processed to obtain a combination of measurements and tests in the XY plane of the illuminated object. The average distance from the object on a line segment is measured by optical triangulation. The variations in scale factor are corrected in the xy planes due to variations in distance from the object. USE/ADVANTAGE- Measuring distance, contours on surface of materials; testing e.g. abrasive materials. Rapid and precise three-dimensional measurement. Capteur optique, de mesure et de test, caractérisé en ce qu'il comporte dans un même boîtier (20) au moins une source (1) d'émission d'un plan structuré, au moins une source (9) de lumière diffusée et une caméra matricielle (15) munie d'un objectif (16), disposée dans ledit boîtier pour recevoir la lumière desdites sources (1, 9) rétrodiffusée par un objet et ce qu'il comporte en outre des moyens (30) de traitement des signaux de sortie de la caméra matricielle pour obtenir des mesures de distance Z de l'objet au capteur et des mesures dimensionnelles dans le plan XY de l'objet frappé par les lumières desdites sources.