Installation for the measurement of components forming part of a circuit placed in an enclosure

An installation for the high temperature measurement of an element (1) contained in the cabinet (2) of a television set, of a microwave oven or other enclosure. The terminals (7, 8) of the element (1) leave (at 12 and 13) this enclosure (2). Means (24, 20, 38) are provided outside the enclosure (1)...

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Hauptverfasser: BUATOIS JEAN-YVES, BOUILLOT JEAN-MICHEL
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:An installation for the high temperature measurement of an element (1) contained in the cabinet (2) of a television set, of a microwave oven or other enclosure. The terminals (7, 8) of the element (1) leave (at 12 and 13) this enclosure (2). Means (24, 20, 38) are provided outside the enclosure (1) for sequential switching so that, when the high temperature measurement is to be made, this element (1) is almost instantaneously isolated and connected to the terminals (30, 31) of a measuring apparatus (32). Installation pour la mesure à chaud d'un élément (1) contenu dans l'enceinte (2) d'un téléviseur, d'un four à micro-ondes, ou autre. Les bornes (7, 8) de l'élément (1) sont sorties (en 12 et 13) de cette enceinte (2). Il est prévu des moyens de commutation séquencés (24, 20, 38), extérieurs à l'enceinte (1), pour, lorsque l'on désire faire la mesure à chaud, isoler quasi-instantanément cet élément (1) et le brancher aux bornes (30, 31) d'un appareil de mesure (32).