DISPOSITIF ET METHODE DE MESURE DES DEFORMATIONS D'UN ECHANTILLON

Dispositif et méthode de mesure des déformations d'un échantillon, lesdites déformations résultant notamment de la relaxation des contraintes auxquelles l'échantillon était soumis préalablement à la mesure, l'échantillon ayant un axe correspondant à une direction principale de déforma...

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Hauptverfasser: JACQUES LESSI, PHILIPPE PERREAU, GUY GRARD, DANIEL BARY
Format: Patent
Sprache:fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Dispositif et méthode de mesure des déformations d'un échantillon, lesdites déformations résultant notamment de la relaxation des contraintes auxquelles l'échantillon était soumis préalablement à la mesure, l'échantillon ayant un axe correspondant à une direction principale de déformation.Ce dispositif est caractérisé en ce qu'il comporte au moins cinq capteurs de déplacement ayant chacun une direction de mesure, les directions de mesure étant sensiblement perpendiculaires audit axe de l'échantillon.L'invention s'applique notamment à la mesure des déformations d'un échantillon géologique, tel une carotte prélevée dans un forage du sol. Apparatus and method for measuring deformations of a sample, said deformations resulting in particular from the relaxation of the stresses to which the sample was subjected before measurement, the sample having an axis corresponding to a principal deformation direction. This apparatus is characterised in that it comprises at least five displacement sensors, each having a measurement direction, the measurement directions being essentially perpendicular to said axis of the sample.