DISPOSITIF D'ANALYSE ET DE CORRECTION DE SURFACES D'ONDE EN TEMPS REEL

SYSTEME OPTIQUE D'ANALYSE ET DE CORRECTION DE FRONTS D'ONDE COMPRENANT UN MIROIR DEFORMABLE DE CORRECTION DE FRONTS D'ONDE ET UN SYSTEME D'ANALYSE ET DE DETECTION DE DISTORSION DE PHASE, UN INTERFEROMETRE A DEDOUBLEMENT LATERAL CONSTITUANT LE SYSTEME D'ANALYSE, RECEVANT LE F...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: JEAN-CLAUDE FONTANELLA
Format: Patent
Sprache:fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:SYSTEME OPTIQUE D'ANALYSE ET DE CORRECTION DE FRONTS D'ONDE COMPRENANT UN MIROIR DEFORMABLE DE CORRECTION DE FRONTS D'ONDE ET UN SYSTEME D'ANALYSE ET DE DETECTION DE DISTORSION DE PHASE, UN INTERFEROMETRE A DEDOUBLEMENT LATERAL CONSTITUANT LE SYSTEME D'ANALYSE, RECEVANT LE FRONT D'ONDE A ANALYSER ET LE DEDOUBLANT ET DEDUISANT DES DEUX FRONTS D'ONDE VOISINS OBTENUS DES SIGNAUX POUR COMMANDER LA DEFORMATION DUDIT MIROIR DEFORMABLE, CARACTERISE EN CE QUE CET INTERFEROMETRE A DEDOUBLEMENT LATERAL EST UN INTERFEROMETRE FORME DE DEUX DIEDRES A 90 REFLECHISSANTS 201 ET 202 DONT LES BISSECTRICES SE COUPENT AU CENTRE DE L'INTERFEROMETRE, EN CE QUE L'UN DES DIEDRES 202 PEUT ETRE DEPLACE D'UNE DISTANCE PREDETERMINEE PARALLELEMENT AU PLAN BISSECTEUR DE L'AUTRE ET QUE L'AUTRE DIEDRE 201 EST DEPLACE CYCLIQUEMENT PARALLELEMENT PAR RAPPORT A SON PROPRE PLAN BISSECTEUR.