MEMOIRE POUR SYSTEME DE TEST

CETTE MEMOIRE POUR SYSTEME DE TEST PERMET L'ENVOI DE PARAMETRES ET LE TEST DE COMPOSANTS DYNAMIQUES. CETTE MEMOIRE COMPREND DES MEMOIRES PRINCIPALES DE DONNEES 15, DE MASQUE 20 ET DE DEFINITION 25 COMMANDEES PAR UNE MEMOIRE DE COMMANDE 18. DES MEMOIRES SECONDAIRES CORRESPONDANTES DE DONNEES 38,...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	RODOLFO GARCIA ET ROBERT L. HICKLING
Format:	Patent
Sprache:	fre
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	CETTE MEMOIRE POUR SYSTEME DE TEST PERMET L'ENVOI DE PARAMETRES ET LE TEST DE COMPOSANTS DYNAMIQUES. CETTE MEMOIRE COMPREND DES MEMOIRES PRINCIPALES DE DONNEES 15, DE MASQUE 20 ET DE DEFINITION 25 COMMANDEES PAR UNE MEMOIRE DE COMMANDE 18. DES MEMOIRES SECONDAIRES CORRESPONDANTES DE DONNEES 38, DE MASQUE 22 ET DE DEFINITION 27 SONT COMMANDEES PAR UNE MEMOIRE SECONDAIRE DE COMMANDE 33. UN DISPOSITIF DE MULTIPLEXAGE PERMET DE CONNECTER SELECTIVEMENT CES MEMOIRES A DES CIRCUITS DE FORMAT 10. DE PLUS, UNE MEMOIRE DE VALIDATION DE PARAMETRES 30 EST RELIEE A LA MEMOIRE SECONDAIRE DE COMMANDE 33 ET AU DISPOSITIF DE MULTIPLEXAGE POUR COMMANDER LA CONNEXION DE LA MEMOIRE SECONDAIRE 38 OU DE LA MEMOIRE PRINCIPALE 15 AUX CIRCUITS DE FORMAT 10.