Measurement device with motion sensing

The disclosure relates to a measurement device for penetrable materials (151) which comprises an elongated measurement probe (12) configured to penetrate the penetrable material (151). The elongated measurement probe (12) comprises one or more first sensors (19, 110, 120) configured to measure one or more material parameter values in the penetrable material (151). These material parameters may include permittivity, electrical conductivity, moisture concentration or salinity. The measurement device also comprises a second sensor (19, 110, 121, 200, 33-37) configured to measure probe motion parameter values which express the movement of the elongated measurement probe (12) in relation to the penetrable material (151). The measurement device is configured to time the measurement of material parameter values in response to receiving probe motion parameter values, or to indicate the reliability of measured or predicted material parameter values in response to receiving probe motion parameter values. Mittalaite läpäistäville materiaaleille (151), joka sisältää pitkänomaisen mittauspistimen (12) joka voi työntyä läpäistävään materiaaliin (151). Mittauspistin (12) sisältää yhden tai useamman ensimmäisen anturin (19, 110, 120) jotka on asetettu mittaamaan lämpötilaarvoja tai sähköisiä arvoja läpäistävässä materiaalissa (151). Näihin materiaaliarvoihin voi sisältyä permittiivisyys, sähkönjohtavuus, kosteustiheys tai suolaisuus. Mittalaite sisältää myös toisen anturin (19, 110, 121, 200, 33-37) joka on asetettu mittaamaan liikesignaalin joka sisältää pistimen liikeparametriarvoja jotka kuvaavat pistimen (12) liikettä suhteessa läpäistävään materiaaliin (151). Mittalaite ajoittaa materiaaliarvojen mittauksen liikeparametriarvojen perusteella, tai osoittaa mitattujen tai ennustettujen materiaaliarvojen luotettavuuden liikeparametriarvojen perusteella.