Determinar sin contacto una característica física de un elemento objetivo

Se proporcionan sistemas para determinar sin contacto una característica física de un objeto objetivo. Dichos sistemas comprenden una unidad de escáner, una unidad de detector y una unidad de determinación. La unidad de escáner está configurada para funcionar de acuerdo con una posición relativa entre el objeto objetivo y la unidad de escáner, incluyendo dicha operación emitir una radiación de escaneo sobre el objeto objetivo y medir una radiación de interacción causada por la interacción de la radiación de escaneo con el objeto objetivo. La unidad de detector incluye uno o más medidores configurados para medir, independientemente de la posición relativa o variaciones de la misma, una condición que potencialmente distorsiona la operación de la unidad de escáner. La unidad de determinación está configurada para determinar la característica física del objeto objetivo dependiendo de la radiación de interacción medida por la unidad de escáner y la condición potencialmente distorsionante medida por la unidad de detector. También se proporcionan métodos y programas informáticos que se pueden realizar en o por dichos sistemas. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal) Systems are provided for contactless determining a physical feature of a target item. Such systems comprise a scanner unit, a detector unit and a determiner unit. The scanner unit is configured to operate according to a relative position between the target item and the scanner unit, said operation including emitting a scanning radiation onto the target item and measuring an interaction radiation caused by interaction of the scanning radiation with the target item. The detector unit includes one or more measurers configured to measure, irrespective of the relative position or variations thereof, a condition potentially distorting the operation by the scanner unit. The determiner unit is configured to determine the physical feature of the target item depending on the interaction radiation measured by the scanner unit and the potentially distorting condition measured by the detector unit. Methods and computer programs performable at or by said systems are also provided.