Método para la autoverificación de sistemas mecatrónicos

Un método para determinar el rendimiento de error volumétrico de un sistema mecatrónico (20, 20') movible que comprende: definir (31) una nube de puntos volumétrica (25) que representa el espacio de trabajo volumétrico del sistema mecatrónico (20, 20'), comprendiendo dicha nube de puntos v...

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Hauptverfasser: KORTABERRIA BERRIOZABAL, Gorka, GOMEZ-ACEDO BILBAO, Eneko, OLARRA URBERUAGA, Aitor, MUTILBA LARREA, Unai
Format: Patent
Sprache:spa
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Beschreibung
Zusammenfassung:Un método para determinar el rendimiento de error volumétrico de un sistema mecatrónico (20, 20') movible que comprende: definir (31) una nube de puntos volumétrica (25) que representa el espacio de trabajo volumétrico del sistema mecatrónico (20, 20'), comprendiendo dicha nube de puntos volumétrica (25) N puntos; conectar (32) un dispositivo de medición (21) al sistema mecatrónico (20, 20'); fijar (33) M puntos fiduciales (24) que rodean el sistema mecatrónico (20, 20'), en el que M>3; definir (34) un sistema de referencia común para el sistema mecatrónico (20, 20'), el dispositivo de medición (21) y los M puntos fiduciales (24); mover secuencialmente el dispositivo de medición (21) a cada uno de los N puntos de la nube de puntos volumétrica (25) y, desde cada posición en la nube de puntos volumétrica (25), obtener (35) un valor de distancia (Dij) a cada uno de los M puntos fiduciales (24); procesar dichos N x M valores de distancia Dij aplicando un enfoque de multilateración (37) para obtener (38) la coordenadas reales de cada una de las N posiciones reales a las que se ha movido el dispositivo de medición (21). Sistema de medición. A method for determining the volumetric error performance of a movable mechatronic system (20, 20') comprising: defining (31) a volumetric point cloud (25) depicting the volumetric work space of the mechatronic system (20, 20'), said volumetric point cloud (25) comprising N points; attaching (32) a measuring device (21) to the mechatronic system (20, 20'); fixing (33) M fiducial points (24) surrounding the mechatronic system (20, 20'), wherein M>3; defining (34) a common reference system for the mechatronic system (20, 20'), the measuring device (21) and the M fiducial points (24); sequentially moving the measuring device (21) to each of the N points of the volumetric point cloud (25) and, from each position in the volumetric point cloud (25), acquiring (35) a distance value (Dij) to each of the M fiducial points (24); processing said N x M distance values Dij applying a multilateration approach (37) for obtaining (38) the actual coordinates of each of the N actual positions to which the measuring device (21) has been moved. Measuring system.