Dispositivo, sistema y método de medición

Un sistema de medición, que incluye: una pluralidad de objetivos reflectantes; un dispositivo de medición, el dispositivo de medición incluye: un director de luz y un modulador de luz espacial (130), en donde el director de luz está dispuesto para dirigir la luz de barrido de longitud de onda al modulador de luz espacial (130) y el modulador de luz espacial (130) está dispuesto para recibir luz del director de luz y para modularlo para formar un patrón de intensidad; un elemento óptico (136) dispuesto para recibir la luz que formó el patrón de intensidad y dispuesto para ampliar el patrón de intensidad en un espacio de medición; y un detector en forma de fotodiodo detector (142) dispuesto para detectar la luz reflejada desde el espacio de medición; en donde el director de luz se configura para dirigir la luz devuelta desde el espacio de medición al detector, incluyendo la luz devuelta la luz de una trayectoria de medición distinta para cada objetivo reflectante; en donde el director de luz se configura para dirigir al detector la luz desde una trayectoria de referencia que interfiere con la luz de cada una de las rutas de medición, creando una señal de interferencia; en donde el sistema de medición se configura para para medir la distancia mediante el uso de la transformada de Fourier de los valores adquiridos del detector. A measurement device (120) includes a light director and a spatial light modulator (130). The light director is disposed to direct light to the spatial light modulator (130) and the spatial light modulator (130) is disposed to receive light from the light director and to modulate it to form an intensity pattern. An optical element is disposed to receive light which formed the intensity pattern and is arranged to magnify the intensity pattern into a measurement space. A detector (142) is disposed to detect light reflected from the measurement space.