System for electromagnetic characterization of materials (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)

System for the electromagnetic characterization of isotropic and anisotropic materials in a non-destructive way comprising a sensor (s1) of microstrip or coplanar type in open circuit, and a measurement equipment (me) for measurements in reflection as a function of frequency. The sensor (s1) contact...

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Hauptverfasser: MARTINEZ VIVIENTE, Félix Lorenzo, HINOJOSA JIMENEZ, Juan, MELCON ALVAREZ, Alejandro
Format: Patent
Sprache:eng ; spa
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Beschreibung
Zusammenfassung:System for the electromagnetic characterization of isotropic and anisotropic materials in a non-destructive way comprising a sensor (s1) of microstrip or coplanar type in open circuit, and a measurement equipment (me) for measurements in reflection as a function of frequency. The sensor (s1) contacts at one end with the surface of the material (m) to be characterized and on the other it is connected to the unit of measurements (em) by means of a transmission guide (g1) and two transitions: (t1) the transition between the sensor (s1) and the transmission guide (g1) and (t2) makes the transition between the transmission guide (g1) and the measurement equipment (em). A second sensor (s2) placed at 90º with respect to the first sensor (s1) is provided to characterize uniaxial anisotropic materials. A third sensor (s3) is provided, the three sensors being oriented in a coordinate system (x, y, z) to characterize biaxial anisotropic materials. (Machine-translation by Google Translate, not legally binding) Sistema y método para caracterización electromagnética de materiales. El sistema tiene: un primer sensor (S1) aplicado a un material desconocido (M); un equipo de medidas (EM); una primera guía de transmisión (G1) conectando el primer sensor (S1) con el equipo de medidas (EM); una primera transición (T1) para realizar una conexión entre el primer sensor (S1) y la primera guía de transmisión (G1); una segunda transición (T2) para realizar una conexión entre la primera guía de transmisión (G1) y el equipo de medidas (EM). El método incluye acondicionar el material desconocido (M). El acondicionamiento puede incluir: el material desconocido (M); el material desconocido (M) depositado sobre un material conocido (Mc); el material desconocido (M) depositado sobre un material conductor (Mcond); el material desconocido (M) depositado sobre dos capas que tienen un material conocido (Mc) y un material conductor (Mcond); un material conocido (Mc) depositado sobre dos capas que tienen el material desconocido (M) y un material conductor (Mcond).