SYSTEM AND METHOD FOR THE DETECTION AND CHARACTERISATION OF NANOPARTICLES
The invention relates to a system and a method for the detection and characterisation of nanoparticles, based on a micro-polarimeter/interferometer with two operating modes, including one or two arms for the real-time detection and characterisation of reduced-size nanoparticles. Sistema y método de...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; spa |
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Zusammenfassung: | The invention relates to a system and a method for the detection and characterisation of nanoparticles, based on a micro-polarimeter/interferometer with two operating modes, including one or two arms for the real-time detection and characterisation of reduced-size nanoparticles.
Sistema y método de detección y caracterización de nanopartículas.Se describen un sistema y un método de detección y caracterización de nanopartículas basado en un micropolarímetro-interferómetro con dos modos de funcionamiento, con uno o dos brazos, para la caracterización y detección en tiempo real de nanopartículas. Se utilizan un polarizador (3) encargado de polarizar el haz de luz generado por la fuente de luz (2) y a continuación un modulador fotoelástico (10) adaptado para modular la fase periódica en estado de polarización de la luz generada por la fuente (2). Las nanopartículas circulan secuencialmente hacia una región donde la luz ha sido focalizada por una lente (17) por un portamuestras (11) que se encuentra alineado con el primer brazo (7). |
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