PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO DE DIAGNOSTICO DE FALLOS MULTIPLES QUE OCURREN EN LOS MATERIALES

Un procedimiento de diagnóstico de averías o fallos múltiples sobrevenidos en materiales (Vi) y representados por ficheros de datos (JDDi), caracterizado por que consiste, en presencia de un vector denominado "forma" xi (xi = (xi1, ..., xiN)) que resulta de la transformación de un fichero de datos (JDDi) emitido desde un material en estado de fallo (Vi), i) en proyectar dicho vector forma xi en unos sub-espacios EPj (siendo j = 1 a M) asociados, respectivamente, a M fallos simples identificados ωj que pueden sobrevenir en dicho material en estado de fallo (Vi), y constituidos, cada uno de ellos, por un subconjunto de variables xikj escogidas entre N variables (xik) asociadas, respectivamente, a N códigos de defecto CDik que pueden sobrevenir en dicho material en estado de fallo (Vi), con el fin de obtener M sub-vectores formas xij, y, a continuación, ii) calcular valores representativos de similitudes entre cada sub-vector forma xij y vectores denominados "prototipo" que forman parte de una base de datos de fallos simples X y que son representativos del fallo simple identificado ωj del mismo índice j y del conjunto de M-1 fallos simples ωj' (siendo j'≠q j), excluido este fallo simple identificado ωj, y iii) deducir de estos valores de similitud al menos un fallo simple del material en estado de fallo (Vi). The method involves projecting a shape vector in sub-spaces respectively associated M simple identified failures occurred in failure equipment among equipments (V1-V4), to obtain M shape sub-vectors, by using a processing module (MT). Values representing similarities between each shape sub-vector and prototype vectors of a simple failure database (X) are calculated, where the prototype vectors represent one identified simple failure and a group of M-1 simple failures excluding the identified simple failure. The similarity values of one simple failure of the failure equipment are deduced. An independent claim is also included for a device for diagnosing multiple failures occurring in an equipment.