METODO Y APARATO PARA PRODUCIR SEÑALES DE PERTURBACION
Un método para producir señales de perturbación adaptables para excitar un número predeterminado de variables de entrada de un sistema, para ensayar ese sistema con los propósitos de obtener modelos para la síntesis de un controlador basado en el modelo, comprendiendo el método las operaciones de: a...
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Format: | Patent |
Sprache: | spa |
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Zusammenfassung: | Un método para producir señales de perturbación adaptables para excitar un número predeterminado de variables de entrada de un sistema, para ensayar ese sistema con los propósitos de obtener modelos para la síntesis de un controlador basado en el modelo, comprendiendo el método las operaciones de: a) proporcionar parámetros de entrada del sistema; b) generar una pluralidad de señales de multifrecuencia binarias (BMF) basadas en los parámetros de entrada; c) calcular el espectro de frecuencias de las señales de BMF generadas en la operación (b); d) seleccionar una de las señales de BMF del conjunto de señales de BMF de la operación (b), cuyo espectro de frecuencias se ajusta estrechamente al espectro de frecuencias deseado especificado por los parámetros de entrada; (e) usar la señal de BMF seleccionada de la operación (d) como una primera señal de perturbación para el sistema que se ensaya; y (f) desplazar la señal de BMF seleccionada de la operación (d) durante una cantidad de tiempo de retardo de las muestras para crear una copia retardada de la señal de BMF seleccionada en la operación (e) para ser usada como una segunda señal de perturbación para ensayar el sistema.
A method and apparatus are provided for designing perturbation signals to excite a number of input variables of a system, in order to test that system for the purpose of obtaining models for the synthesis of a model-based controller. The method begins with providing input parameters (400) of the system. A plurality of binary multi-frequency (BMF) signals are generated (408) based on these input parameters and the frequency spectra of these BMF signals are calculated (410). One BMF signal is selected (412) out of the set of BMF signals so that the frequency spectrum of the selected BMF signal most closely matches a desired frequency spectrum specified by the input parameters. The selected BMF signal is used (418) as a first perturbation signal for testing the system. The selected BMF signal is also shifted (422) by predetermined amounts of samples to create delayed copies of the original BMF signal (424) to be used as additional perturbation signals. |
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