SISTEMA DE CALIBRACION PARA GENERADOR DE IMAGENES TERMICAS

UN SISTEMA DE REFERENCIA FORMADOR DE IMAGENES TERMICAS COMPRENDE DOS CIGUEÑAS GIRATORIAS EN FORMA DE DISCOS (7,8) CADA UNA UNIDA SOBRE UN PIVOTE A UN MIEMBRO DE CONEXION (9). LOS DISCOS (7,8) SON GIRADOS A UNA VELOCIDAD CONSTANTE HACIENDO QUE DOS ESPEJOS (NO MOSTRADOS) LATERALMENTE DESPLAZADOS A LO LARGO DEL MIEMBRO DE CONEXION (9) INTERCEPTEN UNA TRAYECTORIA OPTICA X DE UN FORMADOR DE IMAGENES TERMICAS ASOCIADA CON EL SISTEMA DE REFERENCIA. CADA ROTACION DE 360 GRADOS DE LOS DISCOS (7,8) HACE QUE CADA ESPEJO PASE UNA VEZ A TRAVES DEL CAMINO OPTICO, LAS SUPERFICIES DE ESPEJO ESTAN RESPECTIVAMENTE DISPUESTAS PARA HACER QUE UNA REAL LINEAL DE ELEMENTOS DETECTORES (NO MOSTRADOS) DEL FORMADOR DE IMAGENES TERMICAS INSPECCIONE ALTERNATIVAMENTE LOS DISPOSITIVOS TERMOELECTRICOS (14;15); QUE ESTAN A DIFERENTES TEMPERATURAS, DURANTE EL TIEMPO DE RETORNO ASOCIADO CON EL FORMADOR DE IMAGENES TERMICAS. EL SISTEMA DE REFERENCIA PERMITE QUE LOS MEDIOS DE PROCESAMIENTO DEL FORMADOR DE IMAGENES TERMICAS NORMALICEN LA MATRIZ DE DETECTORES, QUE COMPENSAN PARA DESPLAZAMIENTO DC Y DIFERENCIA EN LA GANANCIA ENTRE DIFERENTES ELEMENTOS DE LA RED DETECTORA. EL SISTEMA DE REFERENCIA ES DE UN DISEÑO PARTICULARMENTE COMPACTO Y MINIMIZA EL EFECTO DE CUALQUIER VARIACION DE TEMPERATURA A TRAVES DE LAS SUPERFICIES DE PELTIER EN EL PROCESO DE NORMALIZACION. A thermal imager referencing system comprises two rotating cranks in the form of discs (7, 8) each pivotally attached to connecting member (9). The discs (7, 8) are rotated at a constant speed causing two mirrors (not shown) laterally displaced along connecting member (9) to intercept an optical path X of a thermal imager associated with the referencing system. Each rotation through 360 degrees of the discs (7, 8) causes each mirror to pass once through the optical path, the mirror surfaces being respectively arranged to cause a linear array of detector elements (not shown) of the thermal imager to view alternately thermo-electric devices (14, 15), which are at different temperatures, during the flyback time associated with the thermal imager. The referencing system enables processing means of the thermal imager to normalise the detector array, compensating for DC offset and differences in gain between different elements of the detector array. The referencing system is of a particularly compact design and minimises the effect of any temperature variations across the surfaces of the Peltier on the normalisation process.