MEASURING DEVICE FOR ELECTROLYSIS
Messeinrichtung zur elektrischen Spannungsmessung in einem Stack von übereinander in Ebenen angeordneten Membran-Elektroden-Einheiten (MEA), die jeweils zur Spannungsmessung mindestens eine Kontaktfläche aufweisen, die außen am Stack zugänglich angeordnet ist, wobei die Messeinrichtung eine Halterun...
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Hauptverfasser: | , , , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
Schlagworte: | |
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Zusammenfassung: | Messeinrichtung zur elektrischen Spannungsmessung in einem Stack von übereinander in Ebenen angeordneten Membran-Elektroden-Einheiten (MEA), die jeweils zur Spannungsmessung mindestens eine Kontaktfläche aufweisen, die außen am Stack zugänglich angeordnet ist, wobei die Messeinrichtung eine Halterung besitzt, in der eine schwenkbare Messplatte mit separaten Kontaktelementen gelagert ist, von denen eine Vielzahl über jeweils eine Kontaktleitung mit einer Messauswertung elektrisch leitend verbunden ist, um die an dem jeweiligen Kontaktelement anliegende elektrische Spannung an die Messauswertung anzulegen, wobei die Messplatte in der Halterung in eine Messposition verschwenkt werden kann und die Kontaktelemente elastisch verformbar ausgebildet sind und in der Messposition unter Verspannen an den Kontaktflächen anliegen.
The invention relates to a measuring device for electrical voltage measurement in a stack of membrane-electrode assemblies (MEA) which are arranged in levels one above the other and which each have, for the purposes of voltage measurement, at least one contact surface that is accessible from outside the stack, wherein the measuring device has a bracket in which there is supported a pivotable measurement plate having separate contact elements, a multiplicity of which are electrically conductively connected via one contact line each to a measurement evaluation means in order to apply the electrical voltage prevailing at each contact element to the measurement evaluation means, wherein the measurement plate can be pivoted in the bracket into a measurement position, and the contact elements are elastically deformable and, in the measurement position, bear under stress against the contact surfaces. |
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