METHOD FOR PARAMETERIZING A MONITORING SYSTEM, PARAMETER DEVICE, AND A MONITORING SYSTEM

METHOD FOR PARAMETERIZING A MONITORING SYSTEM, PARAMETER DEVICE, AND A MONITORING SYSTEM

Die vorliegende Erfindung betrifft eine automatische Konfiguration eines Überwachungssystems für einen industriellen Prozess. Hierzu wird ein initialer Parametrisierungsvektor zur Konfiguration des Überwachungssystems mittels eines gradientenfreies Optimierungsverfahrens iterativ optimiert.

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1. Verfasser: Otte, Clemens
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
Schlagworte:
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL
CONTROLLING
FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS
MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS
PHYSICS
REGULATING
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creator Otte, Clemens
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