METHOD FOR PARAMETERIZING A MONITORING SYSTEM, PARAMETER DEVICE, AND A MONITORING SYSTEM

Die vorliegende Erfindung betrifft eine automatische Konfiguration eines Überwachungssystems für einen industriellen Prozess. Hierzu wird ein initialer Parametrisierungsvektor zur Konfiguration des Überwachungssystems mittels eines gradientenfreies Optimierungsverfahrens iterativ optimiert.

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Otte, Clemens
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL CONTROLLING FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS PHYSICS REGULATING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Die vorliegende Erfindung betrifft eine automatische Konfiguration eines Überwachungssystems für einen industriellen Prozess. Hierzu wird ein initialer Parametrisierungsvektor zur Konfiguration des Überwachungssystems mittels eines gradientenfreies Optimierungsverfahrens iterativ optimiert.