METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING MEASURING POINTS OF AN ADAPTED MEASURING PATH FOR MEASURING A MEASURING OBJECT BY A COORDINATE MEASURING DEVICE AND PROGRAM
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung von Messpunkten (MPa) einer angepassten Messbahn zur Vermessung eines Messobjekts (2, 2') durch eine Koordinatenmesseinrichtung (3), umfassend die Schritte- Bestimmen von Messpunkten (MPi) einer idealen Messbahn,- Bestimme...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung von Messpunkten (MPa) einer angepassten Messbahn zur Vermessung eines Messobjekts (2, 2') durch eine Koordinatenmesseinrichtung (3), umfassend die Schritte- Bestimmen von Messpunkten (MPi) einer idealen Messbahn,- Bestimmen von Soll-Messpunkten (MPs) mindestens einer Führungsbahn, die von der idealen Messbahn verschieden ist,- Erfassen von Ist-Messpunkten (MPf) entlang der mindestens einen Führungsbahn durch die Koordinatenmesseinrichtung (3) oder eine weitere Koordinatenmesseinrichtung,- Bestimmen der Abweichungen (A) zwischen den Soll-Messpunkten (MPs) und den Ist-Messpunkten (MPf) der mindestens einen Führungsbahn,- Bestimmen von Messpunkten (MPa) durch Verändern der Messpunkte (MPi) der idealen Messbahn in Abhängigkeit der Abweichungen (A)sowie ein Programm.
A method for determining measurement points of an adapted measurement path for measuring a measurement object includes determining measurement points of an ideal measurement path. The method includes determining target measurement points of at least one guide path, which differs from the ideal measurement path. The method includes capturing actual measurement points along the at least one guide path using a coordinate measuring device. The method includes determining deviations between the target measurement points and the actual measurement points of the at least one guide path. The method includes determining the measurement points of the adapted measurement path by changing the measurement points of the ideal measurement path based on the deviations. |
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