MEASURING APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING A DEPTH OF FOCUS OF AN OPTICAL STRUCTURE

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Messvorrichtung (10) und ein Verfahren zum Bestimmen einer Schärfentiefe eines optischen Aufbaus (100). Dabei umfasst die Messvorrichtung einen Vorrichtungskörper (12) mit einer Messachse (14), wobei der Vorrichtungskörper (12) so gebildet ist, dass er in eine...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: FOLTYN, Patrick, WEIGAND, Bernhard, ROTH, Norbert
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Die vorliegende Erfindung betrifft eine Messvorrichtung (10) und ein Verfahren zum Bestimmen einer Schärfentiefe eines optischen Aufbaus (100). Dabei umfasst die Messvorrichtung einen Vorrichtungskörper (12) mit einer Messachse (14), wobei der Vorrichtungskörper (12) so gebildet ist, dass er in einer Messposition standfest auf einer Ablageebene des optischen Aufbaus derart abstellbar ist, dass dabei die Messachse (14) des Vorrichtungskörpers (12) mit einer optischen Achse des optischen Aufbaus zusammenfällt, wobei der Vorrichtungskörper (12) eine entlang einer Skalenlinie (16) aufgetragene Messskala (18) derart aufweist, dass die Skalenlinie (16) mit der Richtung der Messachse (14) einen Skalenwinkel ϕ größer als 0° und kleiner als 90° einschließt und die Messskala (18) in der Messposition des Vorrichtungskörper (12) durch den optischen Aufbau (100) für die Bestimmung der Schärfentiefe optisch erfassbar ist. The present invention relates to a measuring device (10) and a method for determining a depth of field of an optical structure (100). In this case, the measuring device comprises a device body (12) with a measuring axis (14), the device body (12) being formed such that, in a measuring position, it can be placed in a stationary manner on a deposit plane of the optical structure such that the measuring axis (14) of the device body (12) coincides with an optical axis of the optical structure, wherein the device body (12) has a measurement scale (18) arranged along a scale line (16) such that the scale line (16) encloses with the direction of the measuring axis (14) a scale angle φ greater than 0° and less than 90° and the measurement scale (18) can be optically detected in the measuring position of the device body (12) by the optical structure (100) for determining the depth of field.