METHOD FOR MONITORING THE STATUS OF AT LEAST ONE COMPONENT OF A PRODUCTION FACILITY MOVING IN OPERATION, METHOD FOR LEARNING, ARRANGEMENT, PRODUCTION FACILITY, COMPUTER PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE MEDIUM

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überwachen des Zustandes einer Komponente, insbesondere einer Transportkette (6), in einer Fertigungsanlage (1), bei dema) ein Überwachungsdatensatz (8) empfangen wird, der eine oder mehrere Reihen (9, 10) von der im Betrieb bewegten Komponente (6) zugeordnet...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Deichmann, Jonas, Klose, Andreas, Meierhofer, Florian, Reimann, Thorsten, Bittner, Dominik, Liatsa, Athina, Frimberger, Tina, Ott, Joachim
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL CONTROLLING CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS MACHINE TOOLS MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS PERFORMING OPERATIONS PHYSICS PRINTED CIRCUITS REGULATING SOLDERING OR UNSOLDERING TRANSPORTING WELDING WORKING BY LASER BEAM
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Überwachen des Zustandes einer Komponente, insbesondere einer Transportkette (6), in einer Fertigungsanlage (1), bei dema) ein Überwachungsdatensatz (8) empfangen wird, der eine oder mehrere Reihen (9, 10) von der im Betrieb bewegten Komponente (6) zugeordneten Prozesswerten (11, 12) umfasst,b) auf Basis der Prozesswerte (11, 12) Merkmalswerte (14) ermittelt werden, indem mehrere innerhalb des Erfassungszeitraumes (13) liegende Zeitfenster (15) betrachtet werden und für jedes Zeitfenster (15) für die darin liegenden Prozesswerte (11, 12) und/oder für darin liegende von den Prozesswerten (11, 12) abgeleitete Werte statistische Größen ermittelt werden,c) die Merkmalswerte (14) standardisiert und/oder normalisiert werden,d) auf die Merkmalswerte (14) wenigstens eine mathematische Methode zur Dimensionsreduktion angewendet wird, wodurch reduzierte Merkmalswerte (30) erhalten werden,e) die reduzierten Merkmalswerte (30) einem angelernten Maschinen-Lern-Modell (31) als Eingangswerte zugeführt werden, undf) das angelernte Maschinen-Lern-Modell (31) eine Zustandsinformation (37) für die im Betrieb bewegte Komponente (6) als Ausgangswert herausgibt.Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Anlernen, eine Anordnung, eine Fertigungsanlage (1), ein Computerprogramm und ein computerlesbares Medium.