METHOD FOR ANALYSING BY ELECTRONIC MICROSCOPY

La présente description concerne un procédé de microscopie électronique, comprenant l'émission d'un faisceau d'électrons (122) animé d'un mouvement de précession (150) et l'acquisition, au moins en partie simultanée, d'une figure de diffraction d'électrons et de va...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	BERNIER, Nicolas, HENRY, Loïc
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS CINEMATOGRAPHY ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRICITY ELECTROGRAPHY HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS HOLOGRAPHY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHOTOGRAPHY PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	La présente description concerne un procédé de microscopie électronique, comprenant l'émission d'un faisceau d'électrons (122) animé d'un mouvement de précession (150) et l'acquisition, au moins en partie simultanée, d'une figure de diffraction d'électrons et de valeurs d'intensité de rayons X. The present disclosure concerns an electron microscopy method, including the emission of a precessing electron beam and the acquisition, at least partly simultaneous, of an electron diffraction pattern and of intensity values of X rays.