METHOD FOR OBSERVING PARTICLES, IN PARTICULAR SUBMICRON PARTICLES

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	ALLIER, Cédric, BOUTAMI, Salim, BENAHMED, Selimen
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	CINEMATOGRAPHY COLORIMETRY ELECTROGRAPHY HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS HOLOGRAPHY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT MEASURING OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS OPTICS PHOTOGRAPHY PHYSICS RADIATION PYROMETRY TESTING
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