METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING A PRODUCT, IN PARTICULAR A ROUNDED PROFILE

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Balemi, Silvano, Daleo, James Vincent
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!