SENSOR FOR A MEASURING POINT AND METHOD FOR INSPECTING A SENSOR FOR A MEASURING POINT

Bei einem zweiteiligen Sensor bestehend aus einem Sensorkopf SK und einem Sensorkopfgegenstück SG erfolgt eine Prüfung im Hinblick darauf, ob der richtige Sensorkopf mit dem Sensorkopfgegenstück verbunden ist.

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	BABEL, WOLFGANG, WITTMER, DETLEV, GOMMLICH, ANDREAS, GEHRKE, MARTIN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY ELECTRICITY MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS PULSE TECHNIQUE TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Bei einem zweiteiligen Sensor bestehend aus einem Sensorkopf SK und einem Sensorkopfgegenstück SG erfolgt eine Prüfung im Hinblick darauf, ob der richtige Sensorkopf mit dem Sensorkopfgegenstück verbunden ist.