Device for the automated testing and/or measurement of a number of essentially identical components using x-ray radiation

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	WÜSTENBECKER, MICHAEL
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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