Device and method for removing tested semiconductor elements

The device has an actuation device (14) arranged above a clamping carrier (1), which moves clamping elements into opening position for enabling the carrier to be discharged and into rest position after discharge. An intermediate carrier (13) is positioned under the clamping carrier onto which the clamping carrier is emptied during discharge. A data memory stores data about a semiconductor component (2). A removal device (16) removes the components from the intermediate carrier and sorts the components into categories in accordance with the data stored in the memory. An independent claim is also included for a method for removing tested semiconductor components from a clamping carrier. Die Erfindung geht aus von einer Vorrichtung zum Entnehmen von geprüften Halbleiterbauelementen aus einem Klemmträger mit festen Anschlagelementen und beweglichen, durch Federelemente vorgespannten Klemmelementen. Erfindungsgemäß weist weist die Vorrichtung folgende Merkmale auf: €¢ eine über dem Klemmträger angeordnete Betätigungseinrichtung, die die Klemmelemente in eine das Entleeren des Klemmträgers ermöglichende Öffnungsstellung und nach dem Entleeren in eine Ruhestellung bewegt, €¢ ein während des Entleerens unter dem Klemmträger positionierter Zwischenträger, auf den der Klemmträger entleert wird, €¢ ein Datenspeicher, in dem Daten zu jedem Halbleiterbauelement abgelegt sind und €¢ eine Entnahmeeinrichtung, die die Halbleiterbauelemente aus dem Zwischenträger entnimmt und entsprechend der in dem Datenspeicher abgelegten Daten in wenigstens zwei unterschiedliche Kategorien sortiert.