A measuring device for the short-wavelength X-ray diffraction and a method thereof

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ZHENG, LIN, PENG, ZHENGKUN, HE, CHANGGUANG
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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