HIGH FREQUENCY ANALYSIS OF A DEVICE UNDER TEST

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ABOUKHOUSA, MOHAMED AHMED, ZOUGHI, REZA, KHARKIVSKIY, SERGIY
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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