Method for achieving improved epitaxy quality (surface texture and defect densitity) on free-standing (aluminum, indium, gallium) nitride ((Al, In, Ga)N) substrates for opto-electronic and electronic devices

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: VAUDO, ROBERT, P, KEOGH, DAVID, M, FLYNN, JEFFREY, S, LANDINI, BARBARA, E, XU, XUEPING, BRANDES, GEORGE, R
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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