IMPROVED PERFORMANCE SOLID STATE DETECTORS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	VAN ASSELT, Rob, SANDERS, Frans, H., M
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION MEASURING PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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