Circuit device and method for testing relay switching contacts of a digital output circuit

The circuit arrangement has first and second switch contacts (1,2) per relay with the first contact between a supply potential (3) and a junction (4) to the second contact and the second contact between the junction and an output point (5) to the load. The junction is connected to supply potential via a first series circuit (7) of a first switch element and at least one resistance element. The output is connected to a reverence potential by a second series circuit (10) with at least one second switch element and at least one second resistance element. There is an arrangement (14,15) for determining the potential of the junction and of the output. An independent claim is also included for a method of testing relay switch contacts of a digital output circuit. Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung für eine digitale Ausgangsschaltung, mit einem ersten und einem zweiten Schaltkontakt (1, 2) jeweils eines Relais, wobei der erste Schaltkontakt (1) zwischen einem Versorgungspotential (3) und einem Verbindungspunkt (4) zum zweiten Schaltkontakt (2) und der zweite Schaltkontakt (2) zwischen dem Verbindungspunkt (4) und einem Ausgangspunkt (5) zum Anschluss einer Last (6) angeordnet ist. Um das Testen der Relais-Schaltkontakte (1, 2) zu erlauben, ohne einen Helltest am Ausgang zu verursachen, wird vorgeschlagen, dass der Verbindungspunkt (4) über eine erste Schaltung (7) mit dem Versorgungspotential (3) verbunden ist, wobei die erste Schaltung (7) eine Serienschaltung aus mindestens einem ersten Schaltelement (8) und mindestens einem ersten Widerstandselement (9) aufweist, wobei der Ausgangspunkt (5) mittels einer zweiten Schaltung (10) mit einem Bezugspotential (11) verbunden ist, wobei die zweite Schaltung (10) eine Serienschaltung aus mindestens einem zweiten Schaltelement (12) und mindestens einem zweiten Widerstandselement (13) aufweist, wobei Mittel (14, 15) zur Bestimmung des Potentials des Verbindungspunkts (4) und des Ausgangspunkts (5) vorgesehen sind. Die Erfindung betrifft zudem ein Verfahren zum Testen von einem ersten und einem zweiten Schaltkontakt (1, 2) jeweils eines Relais einer solchen Schaltungsanordnung.