Transmission mode X-ray diffraction screening system

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BRUEGEMANN, HANS, MATHIAS, LUTZ, HE, BOB, BAOPING, BOLLIG, RYAN, C
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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