APPLICATION-SPECIFIC TESTING METHODS FOR PROGRAMMABLE LOGIC DEVICES

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	LING, ZHI-MIN, PATRIE, ROBERT, D, TONG, VINCENT, L, CHO, JAE, WELLS, ROBERT, W, TOUTOUNCHI, SHAHIN, JOHNSON, CLAY, S, DAVIS, SHELLY, G
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS SEMICONDUCTOR DEVICES TESTING
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