Device for measuring photometric characteristics of a material

Device for measuring the photometric characteristics of a material (22) that comprises: an arrangement for creating N collimated and homogenous secondary light beams (IV), each beam of which insolates a given surface (20, 28) of the material with a given angle of incidence (gamma) relative to the normal (eta) and at a second angle of incidence (approximatelyB) defined in a plane (P) of the insolation surface; a luminance sensor (24) for measuring the reflected luminance (V) from each insolated surface and; means for acquisition and processing of the luminance sensor signal. L'invention concerne un dispositif de mesure de caractéristiques photométriques d'un matériau (22), qui comporte : des moyens d'élaboration (16) d'un arrangement de N faisceaux lumineux secondaires collimatés et homogènes (IV), chacun desdits N faisceaux lumineux (IV) permettant d'insoler une surface déterminée (20, 28) dudit matériau (22) selon un premier angle d'incidence γ défini par rapport à la normale (n) à ladite surface à insoler (20, 28) et selon un second angle d'incidence β défini dans un plan (P) de ladite surface à insoler (20, 28), un capteur de luminance (24) pour capter la luminance réfléchie (V) par ladite surface insolée (20, 28), ledit capteur de luminance (24) étant écarté d'un angle d'observation α sensiblement égal à 1° par rapport audit plan (P) de la surface à insoler (20, 28), des moyens d'acquisition et de traitement (18) du signal transmis par ledit capteur de luminance (24).