IMPROVED METHOD AND APPARATUS FOR SUBMICRON IC DESIGN USING EDGE FRAGMENT TAGGING

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: COBB, NICOLAS, BAILEY, MARTINIAN, EMIN
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung: