Interferometric near-field apparatus and method

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	O'BOYLE, MARTIN PATRICK, ZENHAUSERN, FREDERIC, WICKRAMASINGHE, HEMANTHA KUMAR, MARTIN, YVES
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] MEASURING PHYSICS SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!