System testing device and method using a JTAG circuit

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KAWANO, KAYOKO, HARA, KAZUHIRO, TAKAKI, YASUSHI, SUTOU, SHINICHI
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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