Device for spatially resolved and non-destructive inspection of magnetic parameters
Ein Induktionssensor (1) mit einer Ortsauflösung im Mikrogefügebereich und eine Hallsonde (14) nehmen an jedem von einer Positioniervorrichtung (22) angefahrenen Ort in einem von einem Regelkreis kontrollierten Abstand über der Oberfläche eines Prüfkörpers (30) die in einem Zwischenspeicher (40) abz...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
Schlagworte: | |
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Zusammenfassung: | Ein Induktionssensor (1) mit einer Ortsauflösung im Mikrogefügebereich und eine Hallsonde (14) nehmen an jedem von einer Positioniervorrichtung (22) angefahrenen Ort in einem von einem Regelkreis kontrollierten Abstand über der Oberfläche eines Prüfkörpers (30) die in einem Zwischenspeicher (40) abzuspeichernde magnetischen Kenngrößen wie beispielsweise eine Barkhausenrauschkurve auf. Durch Zuordnung der den Meßorten entsprechenden Größen zu den von einem Diskriminator (41) gefilterten charakteristischen Größen der Barkhausenrauschkurve erfolgt in einem Ausgabegerät (45) eine Abbildung des Eigenspannungs- und Gefügezustandes der Prüfkörperoberfläche mit einer Auflösung im Mikrometerbereich. Weiterhin ist mit einer Impedanzmeßvorrichtung (52) ortsabhängig die Wirbelstromimpedanz und Überlagerungspermeabilität bestimmbar.
An induction sensor (1) having a positional resolution in the microstructure region and a Hall probe (14) record the magnetic parameters, such as a Barkhausen noise curve, to be stored in an interim store (40) at every point encountered by a positioning device (22) situated at a spacing controlled by a control circuit on the surface of a test specimen (30). The internal stress state and microstructure state of the test-specimen surface is imaged in an output device (45) with a resolution in the micrometre region by assigning the values corresponding to the measurement points to the characteristic values of the Barkhausen noise curve filtered by a discriminator (41). The eddy current impedance and the incremental permeability can furthermore be determined as a function of position with an impedance-measuring device (52). |
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