THICKNESS AND FLAW DETECTION USING TIME MAPPING INTO MEMORY TECHNIQUE

L'invention se rapporte en général à des systèmes d'imagerie par ultrasons et se rapporte particulièrement à l'utilisation de tels systèmes dans des contrôles non-destructifs où l'on doit mesurer l'épaisseur de pièces (15) soupçonnées de présenter des défectuosités internes...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	LIBERTO, ANTHONY, JOSEPH, JONES, ROBERT, LLEWELLYN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION ORRERADIATION OF RADIO WAVES MEASURING PHYSICS RADIO DIRECTION-FINDING RADIO NAVIGATION TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	L'invention se rapporte en général à des systèmes d'imagerie par ultrasons et se rapporte particulièrement à l'utilisation de tels systèmes dans des contrôles non-destructifs où l'on doit mesurer l'épaisseur de pièces (15) soupçonnées de présenter des défectuosités internes (40) mais dont l'accès est souvent limité aux surfaces externes. L'invention permet de déterminer de façon sensiblement précise l'épaisseur et la présence de défectuosités sans qu'il soit nécessaire d'utiliser une horloge de fréquence ultra-élevée onéreuse pour mesurer la durée.