PROCESS AND ARRANGEMENT FOR TESTING OPTICAL COMPONENTS OR SYSTEMS

Un procédé et un dispositif permettent de contrôler des composants (12) ou des systèmes optiques qui font partie d'un agencement composé d'un système optique focalisateur (1) et d'un photodétecteur (2) à résolution locale situé à proximité du plan focal du sysème optique focalisateur. Une source (3) d'un faisceau de lumière parallèle précis, étroitement délimité à front d'onde uniforme, pourvue d'un collimateur (32), est déplacée ligne par ligne sur un plan parallèle au front d'onde, jusqu'à plusieurs positions de la source (3) dans lesquelles le signal du photodétecteur (2) est déterminé. Des oscillations de la source (3) perpendiculairement au sens des lignes sont saisies par un agencement qui comprend un deuxième collimateur (52) et un deuxième détecteur (51) à sensibilité locale. L'ouverture du système optique (1) est balayée deux fois dans des sens des lignes mutuellement décalés d'environ 90°. En outre, une ligne à proximité de l'axe de rotation est balayée dans une position décalée de 45° environ. PCT No. PCT/EP91/00219 Sec. 371 Date Feb. 6, 1992 Sec. 102(e) Date Feb. 6, 1992 PCT Filed Feb. 5, 1991 PCT Pub. No. WO91/12510 PCT Pub. Date Aug. 22, 1991.Process and apparatus for testing optical components (12) or systems which are contained in an apparatus consisting of a focusing optical system (1) and a space-resolving light detector (2) close to the focal plane thereof, it being provided that a source (3), containing a collimator (32), for a narrowly delimited precisely parallel light beam with a plane wavefront is moved rectilinearly in a plane parallel to the wavefront, at a plurality of positions of the source (3) the signal of the light detector (2) is determined, tilting movements of the source (3) perpendicular to the line direction are detected by an apparatus with a second collimator (52) and space-sensitive detector (51), and the aperture of the optical system (1) is scanned twice with line directions rotated relative to one another through approximately 90 degrees, and in addition an individual line coming close to the axis of rotation is scanned in a position rotated through approximately 45 degrees.