Method and apparatus for nondestructively measuring micro defects in materials

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	SILVA, ROBERT M, SLEDGE JR., ROBERT B, ORAZIO JR., FRED D
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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