ELECTRONIC CIRCUIT ARRANGEMENT

Un agencement de circuit électronique dans un circuit de mesurage de température fondé sur une résistance platine (PT) en tant que résistance sondeuse de température, par laquelle en plus de la résistance platine est prévue une résistance de référence (RI). Le circuit de mesurage (S) est adapté à l'application de courants c.c. (I5, I6) de valeur égale aux deux résistances ayant un conducteur de retour (3) commun, et au sondage de la différence de tension qui en résulte (U) sur toutes les résistances. Au moyen d'au moins un amplificateur asservi (G) la différence de tension est adaptée afin de produire un courant c.c. de rendement du circuit de mesurage (S) proportionnel à la différence de tension, ainsi constituant une mesure de la température de la résistance platine (PT). Le circuit de mesurage (5) comporte des moyens de compenser la non linéarité de la caractéristique de résistance à la température de la résistance platine. Deux transistors (T1, T2) sont prévus, dont les courants de rendement de collecteur (I3, I4) sont chacuns adaptés à être ajoutés à leurs courants c.c. de valeur égale (I6, I5) respectifs étant appliqués à la résistance platine (PT) ainsi qu'à la résistance de référence (RI) repectivement. La tension d'émetteur/base des transistors est adapté pour varier selon le courant c.c. de rendement du circuit de mesurage (S). PCT No. PCT/NO90/00062 Sec. 371 Date Dec. 21, 1990 Sec. 102(e) Date Dec. 21, 1990 PCT Filed Apr. 6, 1990 PCT Pub. No. WO90/13009 PCT Pub. Date Nov. 1, 1990.Electronic circuit arrangement in a temperature measurement circuit based on a platinum resistor (PT) as a temperature sensing resistor, whereby in addition to the platinum resistor there is provided a reference resistor (R1). The measurement circuit (S) is adapted to apply equally large DC currents (I5, I6) to both resistors having a common return lead (3) from these, and to sense the resulting voltage difference (U) across the resistors. By means of at least one operational amplifier (G) the voltage difference is adapted to cause an output DC current from the measurement circuit (S) being proportional to the voltage diffeerence and thereby constituting a measure of the temperature of the platinum resistor (PT). The measurement circuit (S) comprises means (L) for compensating for non-linearity of the temperature-resistance characteristic of the platinum resistor. Two transistors (T1, T2) are provided, of which the collector output currents (I3, I4) are each adapted to