Process and device for correcting a signal-processing circuit with respect to deviations from its elements due to manufacturing tolerances

Es wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Korrektur von Bauteiltoleranzen bei der Verarbeitung von Signalen, insbesondere von Klopfsensorausgangssignalen vorgeschlagen, bei dem das von Bauteiltoleranzen bzw. Offset-Fehlern herrührende zusätzliche Signal separat bestimmt wird und anschließend vo...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	ENTENMANN, ROBERT., FOERSTER, SIEGMAR, KUGLER, WOLFGANG, MILLER, BERNHARD, MAHLBERG, ALFRED, WINTER, HERBERT, ZIMMERMANN, JURGEN, ROHDE, SIEGFRIED, VIESS, WALTER, STENGEL, BERNHARD, BEYER, HANS-ERNST, BONITZ, JOERG, UNLAND, STEFAN, LANDSMANN, GERHARD, MENCHER, BERNHARD, KNAB, ROCHUS, KUENZEL, WALTER, DIETSCHE, KARL-HEINZ, PHILIPP, MATTHIAS
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER,MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Es wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Korrektur von Bauteiltoleranzen bei der Verarbeitung von Signalen, insbesondere von Klopfsensorausgangssignalen vorgeschlagen, bei dem das von Bauteiltoleranzen bzw. Offset-Fehlern herrührende zusätzliche Signal separat bestimmt wird und anschließend von den vom Sensor gelieferten Ausgangssignalen subtrahiert wird. The signals concerned are, in particular, knocking sensor output signals and in the method, the additional signal originating from component tolerances or offset errors is determined separately and then subtracted from the output signals supplied by the sensor.