Device for the compensation of the base line drift of a chromatographic column

Die bei einem Temperatur- oder Strömungsgeschwindigkeitsprogramm bei einer chromatographischen Trennsäule auftretende Basisliniendrift wird durch Signale von Funktionsgeneratormitteln kompensiert. Die Funktionsgeneratormittel liefern eine Darstellung der Basisliniendrift als analytische Funktion der...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: KOLB, BRUNO, POSPISIL, PETER
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Die bei einem Temperatur- oder Strömungsgeschwindigkeitsprogramm bei einer chromatographischen Trennsäule auftretende Basisliniendrift wird durch Signale von Funktionsgeneratormitteln kompensiert. Die Funktionsgeneratormittel liefern eine Darstellung der Basisliniendrift als analytische Funktion der Temperatur mit trennsäulenspezifischen Parametern. Die Parameter werden in einem Testlauf bestimmt und in die Funktionsgeneratormittel eingegeben. 1. Device for the compensation of the baseline drift of a chromatographic separating column during a temperature and/or flow program, comprising (a) programmer means, which are arranged to subject the separating column (10) to predeterminable temperature and/or flow programs, (b) test run means (18) for providing a first temperature and/or flow program without sample feeding for determination of a baseline depending on the temperature and on the flow and characteristic for the separating column (10), (c) a memory arranged to memorize data of the baseline thus determined, and (d) difference forming means (22), to which, during the subsequent execution of a second temperature and/or flow program with sample feeding and with the same separating column (10), a measuring signal corresponding to the output of the separating column (10) and a baseline signal obtained from the memorized data for correction of the measuring signal are adapted to be applied, characterized by (a) computer means (24), to which the program parameters of the first temperature and/or flow program are applied by the test run means (18), and to which the uncorrected baseline signal obtained with this temperature and/or flow program without sample feeding is applied, and which are arranged to calculate parameters a, b, tau, lo , specific for the separating column of the analytic function of known form, which represents the course of the baseline signal, and (b) function generator means (26), to which the parameters a, b, tau, lo , specific for the separating column and calculated by the computer means (24) are adapted to be applied, and which are arranged to illustrate the baseline signal as said analytic function of time t of the program parameters theta 1 , theta 2 , theta 3 , t1 , t2 , t3 , R1 , R2 , of the temperature and/or flow program determined by the program supply means and of the parameters a, b, tau, lo , specific for the separating column.