Method and device for impedance analysis with binary excitation

Method and device for impedance analysis with binary excitation, with improved accuracy, where the nonidealities of the sampling and preprocessing of the response signal (including aliasing effects) are taken into account by using of the overall system model with equivalent circuit diagrams of the analyzed object and the model of the preliminary analysis of the response signal. The analysis result is the equivalent circuit diagram with component values with the best match of the overall model analysis and of the preliminary analyze of the response signal. Further, the analysis result can be the impedance frequency response or the classifier of the analyzed object. Binaarse ergutusega impedantsi analüüsi meetod ja seade, kus analüüsitäpsuse oluline paranemine saavutatakse ergutussignaali vastussignaali võendamisel ja esmatöötlusel tekkivate ebatäpsuste (k.a. tingituna signaali nn aliaskomponentidest) arvessevõtmisega, kasutades kogu süsteemi mudelit. Viimane sisaldab mõõdetava objekti aseskeemi (või selle variante) ning vastussignaali esialgse analüüsi mudelit koos mitteideaalsuste arvestamisega. Impedantsianalüüsi vahe- või lõpptulemuseks on aseskeem koos aseskeemi komponentide parameetritega, mis parimal viisil sobitab süsteemi analüüsi kogumudeli tulemuse ja vastussignaali esialgse analüüsi tulemuse. Edasiseks tulemuseks võib olla ka antud aseskeemist arvutatud impedantsi sageduskäik või määratud objekti klassifikaator.