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Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	YOSHIZAWA, KOSUKE, AMANUMA, TEIJI, HASEGAWA, NAOICHI, ARIMA, SATOSHI, SUGAWARA, HIDETOSHI
Format:	Patent
Sprache:	dan
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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