Schaltungsprüfsystem mit einer Schnittstelle von N-bit pro Stift

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	COMBS, MICHAEL LEE, POUGHQUAG NY. 12570, US, HOFFMAN, DALE EUGENE, STORMVILLE NY. 12582, US, PUNTAR, CHARLES ALBERT, HOPEWELL JUNCTION NY. 12533, US, SZABO, KURT PAUL, FISHKILL NY. 12524, US, GRUODIS, ALGIRDAS JOSEPH, WAPPINGERS FALLS NY. 12590, US
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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