KLEMMVORRICHTUNG FUER DAS SCHNEIDMESSER EINES MIKROTOMS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BERLETH,MANFRED, WEINHOLD,HELMUT
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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