Electric potential measurement method using Pockel's effect
The method involves using a Pockel crystal (12) into which first and second polarised light beam (4,6) are coupled. The first and second light beams (4a), which emerge from the crystal are, redirected by a multiple inner total reflection. The light beams are phase shifted with respect to each other...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; ger |
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Zusammenfassung: | The method involves using a Pockel crystal (12) into which first and second polarised light beam (4,6) are coupled. The first and second light beams (4a), which emerge from the crystal are, redirected by a multiple inner total reflection. The light beams are phase shifted with respect to each other about an odd multiple of lambda/4 by an inner total reflection of at least one emerged light beam. The beams are then coupled again into the Pockel crystal. At least a triple inner total reflection of at least one emerged light beam is carried out for the phase shift.
Bei dem Verfahren zur Messung einer elektrischen Spannung mit Hilfe des longitudinalen Pockelseffektes werden in einen Pockelskristall (12) ein erster und ein zweiter polarisierter Lichtstrahl (4, 6) eingekoppelt. Die aus dem Pockelskristall austretenden Lichtstrahlen (4a, 6a) werden jeweils durch eine mehrfache innere Totalreflexion umgelenkt und relativ zueinander bei dieser Totalreflexion um ein ungeradzahliges Vielfaches von lambda/4 phasenverschoben. Gemäß der Erfindung wird zum Erzeugen dieser Phasenverschiebung zumindest einer der aus dem Pockelskristall (12) austretenden Lichtstrahlen (4a, 6a) durch eine mindestens dreifache innere Totalreflexion umgelenkt und erneut in den Pockelskristall (12) eingekoppelt. |
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