ELEKTRONISCHE SIGNALÜBERPRÜFUNG MIT EINER ÜBERSETZTEN SIMULIERTEN WELLENFORM

Ein System zur Überprüfung von Signalen in elektronischen Schaltungen, das einen Wellenformübersetzer und ein Test- und Messinstrument umfasst. Der Wellenformübersetzer ist so ausgebildet, dass er eine simulierte Wellenform für einen Knoten eines simulierten Schaltungsprototyps empfängt und die simu...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Burgess, David Everett
Format: Patent
Sprache:ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Ein System zur Überprüfung von Signalen in elektronischen Schaltungen, das einen Wellenformübersetzer und ein Test- und Messinstrument umfasst. Der Wellenformübersetzer ist so ausgebildet, dass er eine simulierte Wellenform für einen Knoten eines simulierten Schaltungsprototyps empfängt und die simulierte Wellenform in eine übersetzte Wellenform übersetzt. Das Test- und Messinstrument ist so ausgebildet, dass es eine gemessene Wellenform erhält und eine Abweichung der gemessenen Wellenform von der simulierten Wellenform unter Verwendung der übersetzten Wellenform bestimmt. A method comprising categorizing nodes of a fabricated circuit as being priority nodes and nodes as being inferior nodes; evaluating a first priority node by automatically designating for verification the first priority node, and ascertaining whether a measured signal from the first priority node meets a pass-fail criterion for the first priority node; evaluating, when the measured signal from the first priority node meets the pass-fail criterion, a second priority node by automatically designating for verification the second priority node, and ascertaining whether a measured signal from the second priority node meets a pass-fail criterion for the second priority node; and evaluating, when the measured signal from the first priority node does not meet the pass-fail criterion, a first inferior node, by automatically designating for verification the first inferior node, and ascertaining whether a measured signal from the first inferior node meets a pass-fail criterion for the first inferior node.